Отраженное освещение поверхностей (метод зеркального поля)

Метод применяется для осмотра и изучения зон раздела оптических сред глаза. В конктактной коррекции данная методика освещения применима для осмотра поверхностей роговицы, в частности, эпителия и эндотелия.

Порядок действий:

- установите угол 60° между щелевой лампой и микроскопом

- световой луч имеет форму параллелепипеда (ширина 3-4 мм)

- перемещайте ручку осветителя до тех пор, пока не появится рефлекс на исследуемой поверхности

- помните: угол отражения равен углу падения!

Наблюдение:

- при большом увеличении можно увидеть отдельные клетки эндотелия (например, полимегатизм) и их отек, преципитаты, оценить качество поверхности эндотелия (гладкость)

- мельчайшие неровности эпителия, отек

- стабильность слезной пленки, качество липидного слоя, включения

3.7.