<<
>>

Электронная микроскопия

Возможности оптических микроскопов ограничиваются не числом линз, а слишком большой длиной волны видимого света (600 нм). Объекты, диаметр которых меньше этой величины, или линии, разделенные расстояни­ем менее 200 нм, находятся за пределами разрешающей способности микро­скопа.

Применение вместо световых волн потока движущихся электронов по­зволило создать электронный микроскоп (рис. 8).

Рис. 8. Электронный микроскоп

Электронный поток вызы­вает свечение флюоресцирующе­го экрана. Если на пути электро­нов поместить какой-то объект, то в зависимости от его плотно­сти электроны будут больше или меньше задерживаться, соответ­ствующие места на экране или фотопластинке окажутся более или менее затемненными. Этот простой принцип в современной электронном микроскопе допол­нен принципом отклонения элек­тронных лучей в магнитном поле подобно тому, как световые лучи отклоняются стеклянными лин­зами.

Источником электронного потока служит катодная лампа с вольфрамовой нитью, которая ра­зогревается до 25000 °С.

Освобождающиеся при этом электроны летят в вакууме с большей или меньшей быстротой по направлению к аноду. В этом движении скорость оп­ределяет напряжение (30-100 кВ), существующее между анодом и катодом. Чем больше напряжение, тем выше разрешающая способность электронного микроскопа. Анод имеет в центре отверстие, через которое электроны летят по направлению к конденсору. Возле катода располагается отрицательно за­ряженный цилиндр, как бы суживающий пучок электронов, которые, будучи отрицательно заряжены, отталкиваются от стенок цилиндра в середину.

Это устройство в электронных микроскопах большинства систем рас­полагается наверху, и пучок электронов направляется вниз. Объект исследо­вания находится на их пути и отклоняет электронный луч, тем сильнее, чем плотнее его структура.

За конденсорной линзой, которая собирает электроны на исследуемом объекте. За конденсорной линзой следует объективная, про­межуточная и проекционная. Затем электроны попадают на экран, покрытый светящийся под их воздействием веществами - катодолюминофорами, здесь изображение из невидимого становится видимым.

Необходимый рабочий вакуум в колонне микроскопа должен быть 10-4-10-5 мм рт.ст. Изображение на флюоресцирующем экране электронного микроскопа создается тогда, когда соответствующие участки экрана будут обладать различной яркостью. При напряжение 200000 В, если препарат тон­кий, можно обнаружить внутриклеточные структуры, получить увеличение до 200000 раз и увидеть объекты размером 0,002 мкм. Качество изображения в электронном микроскопе определяется его контрастом. Так как в состав биологических материалов входят в основном атомы с небольшой массой, контрастность таких материалов невелика, ее можно значительно повысить, обрабатывая препарат солями тяжелых металлов (свинца, вольфрама, урана), которые могут быть фиксированы на самом объекте (позитивное контрасти­рование) или использованы для повышения электронной плотности окру­жающего поля (негативное контрастирование). Разрешающая способность электронного микроскопа составляет 0,1-0,2 нм, а полезное увеличение - до 1-2 млн. раз.

Биологические объекты исследуются в электронном микроскопе поме­щенными на специальные сетки, предварительно покрытые пленками. Для их приготовления используют растворы коллодия или формвара. Основные тре­бования к пленкам - прочность, бесструктурность, и незначительная толщи­на. Они должны быть легко проницаемы для электронов. Для повышения контраста биологических объектов применяют в качестве фиксатора четы- рехокись осмия (OsO4). Обычно используют 1%-ный раствор OsO4, забуфе- ренный фосфатными буферами или метод альдегидной фиксации - глюта­ральдегид, акролеин. Наиболее распространенным является контрастирова­ние уранилацетатом.

Различают два типа электронных микроскопов: трансмиссионный (про­свечивающий) электронный микроскоп и сканирующий (растровый) элек­тронный микроскоп (рис.

9).

Рис. 9. Трансмиссионный и сканирующий электронные микроскопы

Трансмиссионный (просвечивающий) электронный микроскоп дает двумерное (плоское) изображение. При сканирующей (растровой) электрон­ной микроскопии пучок электронов быстро сканирует поверхность образца, вызывая излучение, которое посредством катодно-лучевой трубки формирует трехмерное изображение на светящемся экране; этот процесс сходен с фор­мированием телевизионного изображения. Разрешающая способность скани­рующего микроскопа достигает 3 нм, увеличение - 300000. Кроме того, су­ществуют комбинированные электронные микроскопы, которые могут рабо­тать в просвечивающем, сканирующем, либо в двух режимах одновременно. Электронная микроскопия позволяет изучить структуру микроорганизмов на макромолекулярном и субклеточном уровнях.

Задание

Научиться настраивать микроскоп и микроскопировать с иммерсион­ным объективом. В процессе работы с микроскопом следует учитывать наи­более распространенные ошибки:

1. Использование предметных стекол большой толщины (более 1,1-1,2 мм) не позволяет установить свет по Кёлеру (их толщина больше рабочего расстояния конденсора).

2. Применение нестандартных покровных стекол (более 0,17 мм тол­щины) при использовании иммерсионных объективов может привести к по­вреждению фронтальной линзы, при использовании сильных сухих систем

(х40) не позволяет получить изображение высокого качества.

3. Недопустимо использование суррогатов иммерсионного масла, так как их оптические характеристики могут отличаться от стандартных, что приведет к ухудшению качества изображения. Кроме того, они могут содер­жать агрессивные вещества, повреждающие линзы и растворяющие клей, ко­торым эти линзы склеены.

4. Абсолютно недопустимо произвольное раскрытие апертурной ирис­диафрагмы конденсора. Полностью открытая диафрагма конденсора приво­дит к потере контраста, полностью закрытая - к ухудшению качества изо­бражения (появление дифракционных ободков).

План выполнения работы

1.

<< | >>
Источник: С. В. Прудникова [и др.].. Методы микроэкологического исследования наземных, водных и воз­душных экосистем: Учебное пособие для студентов высших учебных заведе­ний, обучающихся по направлению «Биология» /С. В. Прудникова [и др.]. - Красноярск: СФУ, 2007- 152 с.. 2007

Еще по теме Электронная микроскопия: